染料敏化電池IPCE測(cè)試專用方案■ 適用電池：染料敏化太陽(yáng)能電池
■ 光譜范圍：300~1100nm
■ 可測(cè)參數(shù)：光譜響應(yīng)度，量子效率，短路電流密度
■ 可測(cè)樣品面積：100mm×100mm
■ 測(cè)試手段：直流測(cè)試法，直流偏光測(cè)試法

Name: 染料敏化電池IPCE測(cè)試專用方案
Brand: ZOLIX/卓立漢光
Availability: InStock

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2024-05-20

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問(wèn)量：4428

產(chǎn)品咨詢 13810146393

產(chǎn)品分類Product Categories

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SCS10-DSSC染料敏化電池IPCE測(cè)試專用方案

■ 適用電池：染料敏化太陽(yáng)能電池
■ 光譜范圍：300~1100nm
■ 可測(cè)參數(shù)：光譜響應(yīng)度，量子效率，短路電流密度
■ 可測(cè)樣品面積：100mm×100mm
■ 測(cè)試手段：直流測(cè)試法，直流偏光測(cè)試法

注：綠色曲線測(cè)試條件為AC（3.8Hz）+0.1Sun偏置光
藍(lán)色曲線測(cè)試條件為DC不加偏置光
紅色曲線測(cè)試條件為DC+0.1Sun偏置光

SCS10-X150-DSSC 方案規(guī)格

項(xiàng)目	規(guī)格
測(cè)試光斑尺寸	2-10mm
波長(zhǎng)范圍	300-1100nm
波長(zhǎng)準(zhǔn)確性	±0.2nm（@1200g/mm）
掃描間隔	小可達(dá)0.1nm，推薦使用5nm間隔
多級(jí)光譜濾除裝置	電動(dòng)控制，根據(jù)波長(zhǎng)自動(dòng)切換
標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器	標(biāo)準(zhǔn)硅探測(cè)器，含響應(yīng)度標(biāo)定證書(shū)
數(shù)據(jù)采集器靈敏度	100nA
樣品夾持	適用于“三明治”結(jié)構(gòu)染敏電池夾持
儀器所需平臺(tái)尺寸	≥1200mm×800mm均可
計(jì)算機(jī)及軟件	系統(tǒng)含計(jì)算機(jī)，鍵盤，鼠標(biāo)，正版windows7操作系統(tǒng)以及系統(tǒng)軟件安裝光盤

特點(diǎn)
測(cè)試手段多樣化
測(cè) 試方案可以是直流測(cè)試法，也可以是直流偏光測(cè)試法，方便用戶用不同方式不同條件進(jìn)行測(cè)試。直流偏光測(cè)試法中的偏光可以采用75W 的溴鎢燈作為偏置光源，濾光片架分為兩部分，一部分為了方便客戶測(cè)試多結(jié)電池及調(diào)整偏置光的波段，可以在此處放置不同波長(zhǎng)的濾光片，另一部分中有兩個(gè)濾光片輪，每個(gè)濾光片輪有 6 個(gè)孔位，通過(guò)調(diào)整每個(gè)濾光片輪的孔位來(lái)設(shè)定偏置光光強(qiáng)。

■ 靠近偏置光出口的濾光片輪濾光片型號(hào)：
1—NDFI2501 透過(guò)率 79% ( 光密度OD 值為0.1)
2—NDFI2503 透過(guò)率 50% ( 光密度OD 值為0.3)
3—NDFI2504 透過(guò)率 39.8%( 光密度OD 值為0.4)
4—NDFI2508 透過(guò)率 15.8%( 光密度OD 值為0.8)
5—NDFI2510 透過(guò)率 10% ( 光密度OD 值為1)
6 空擋及透過(guò)率100%( 光密度OD 值為0)
■ 靠近外光路的濾光片輪濾光片型號(hào)：
1—NDFI2501 透過(guò)率 79%( 光密度OD 值為0.1)
2—NDFI2503 透過(guò)率 50%( 光密度OD 值為0.3)
3—NDFI2504 透過(guò)率 39.8%( 光密度OD 值為0.4)
4—NDFI2508 透過(guò)率 15.8%( 光密度OD 值為0.8)
5—NDFI2520 透過(guò)率 1%( 光密度OD 值為2)
6 空擋及透過(guò)率100%( 光密度OD 值為0)

垂直全反射光路

垂直光路使樣品可以水平放置，全發(fā)射光路可以消除色差所帶來(lái)的影響。垂直全反射光譜配合三維手動(dòng)位移臺(tái)可以調(diào)整前后左右距離以保證光斑和被測(cè)物位置吻合。

專用軟件，專用測(cè)試流程
測(cè)試方案所用軟件是為測(cè)量染敏電池專門設(shè)置參數(shù)的軟件，并且可以設(shè)置當(dāng)您已經(jīng)測(cè)試完一遍且測(cè)試條件沒(méi)有發(fā)生變化的條件下直接測(cè)試樣品，增加測(cè)試速度。

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